Rostislav Daniel

91 - 91 von 91Seitengröße: 10
Sortieren nach: Beginn

Aktivitäten

  1. 2024
  2. Microstructure and residual stress gradients in AlCrSiN thin films revealed by X-ray nanodiffraction: Precipitation-induced crack arrest at sublayer interfaces

    Kutlesa, K. (Redner), Meindlhumer, M. (Beitragende/r), Lassnig, A. (Beitragende/r), Daniel, R. (Beitragende/r), Tkadletz, M. (Beitragende/r), Medjahed, A. A. (Beitragende/r) & Keckes, J. (Beitragende/r)

    2 Dez. 2024

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Vorherige 1...6 7 8 9 10 Nächste