Rostislav Daniel
Aktivitäten
- 2024
Microstructure and residual stress gradients in AlCrSiN thin films revealed by X-ray nanodiffraction: Precipitation-induced crack arrest at sublayer interfaces
Kutlesa, K. (Redner), Meindlhumer, M. (Beitragende/r), Lassnig, A. (Beitragende/r), Daniel, R. (Beitragende/r), Tkadletz, M. (Beitragende/r), Medjahed, A. A. (Beitragende/r) & Keckes, J. (Beitragende/r)
2 Dez. 2024Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation