Rainer Lechner
31 - 31 von 31Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
X-ray characterization of semiconductor nanostructures
Holy, V., Buljan, M. & Lechner, R. T., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 064002/1- 064002/7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
