Maximilian Schiester
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Publikationen
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Reliable Atom Probe Tomography of Cu Nanoparticles Through Tailored Encapsulation by an Electrodeposited Film
Cicek, A., Knabl, F., Schiester, M., Waldl, H., Rafailovic, L., Tkadletz, M. & Mitterer, C., 30 Dez. 2024, in: Nanomaterials. 15.2025, 1, 13 S., 43.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spatially resolved peak decomposition of 3D atom probe tomography datasets
Schiester, M., Konstantiniuk, F., Schalk, N. & Tkadletz, M., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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State-of-the-art and future directions of fs-laser assisted specimen preparation techniques for atom probe tomography measurements
Tkadletz, M., Schiester, M., Renk, O. & Schalk, N., 24 Juli 2024, in: Microscopy and microanalysis. 30.2024, Supplement 1, S. 89-90 2 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
