Markus Kratzer
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Publikationen
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)
Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Effects of polymethylmethacrylate-transfer residues on the growth of organic semiconductor molecules on chemical vapor deposited graphene
Kratzer, M., Bayer, B. C., Kidambi, P. R., Matkovic, A., Gajic, R., Cabrero-Vilatela, A., Weatherup, R. S., Hofmann, S. & Teichert, C., 9 März 2015, in: Applied physics letters. 106, 10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Effects of hole-transport layer homogeneity in organic solar cells – A multi-length scale study
Chien, H.-T., Pölzl, M., Koller, G., Challinger, S., Fairbairn, C., Baikie, I., Kratzer, M., Teichert, C. & Friedel, B., 2017, in: Surfaces and Interfaces. 6.2017, March, S. 72-80 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Early Stage Growth of Organic Rod-Like Conjugated Molecules on 2D Materials
Matkovic, A., Kratzer, M., Genser, J., Kaufmann, B., Vujin, J., Gajic, R. & Teichert, C., 5 Juli 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Direct determination of the area function for nanoindentation experiments
Saringer, C., Tkadletz, M., Kratzer, M. & Cordill, M. J., 5 Feb. 2021, in: Journal of materials research (JMR). 36.2021, 11, S. 2154-2165 12 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Correlative microscopy of PV conversion in nanostructures for solar cells
Fejfar, A., Hývl, M., Vetushka, A., Ledinský, M., Kocka, J., Marek, A., Vyskocil, J., Misra, S., Yu, L., Foldyna, M., Roca i Cabarrocas, P., Becker, C., Itoh, T., Varlamov, S., Kratzer, M. & Teichert, C., 2014, In Technical Digest of the 6th World Conference on Photovoltaic Solar Energy Conversion, 23 - 27. 11. 2014, Kyoto, Japan, 2014. http://www.wcpec6.com/.. S. 1-2Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
