Markus Kratzer
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Publikationen
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Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)
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Piezoelectric Properties of Zinc Oxide Thin Films Grown by Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition
Abu Ali, T., Pilz, J., Schäffner, P., Kratzer, M., Teichert, C., Stadlober, B. & Coclite, A. M., Nov. 2020, in: Physica Status Solidi / A, Applications and Materials Science. 217, 21, 2000319.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)