Karl Christian Teichert
Publikationen
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Characterization of ZnO nanorods by AFM
Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Charcterization of kraft pulp fiber surfaces using atomic force microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chemically and Photochemically Reactive Siloxane Layers for Modification of Inorganic Surfaces
Lex, A., Pacher, P., Temmel, S., Shen, Q., Hlawacek, G., Werzer, O., Track, A. M., Frank, P., Proschek, V., Schennach, R., Koller, G., Ramsey, M. G., Teichert, C., Resel, R., Winkler, A., Zojer, E., Kern, W. & Trimmel, G., 2007, Chemically and Photochemically Reactive Siloxane Layers for Modification of Inorganic Surfaces. Materials Research Society : MRS, S. 231-231Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Chemical sensitivity on patterned organic thin films by FFM
Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chemical sensitivity on patterned organic thin films by FFM
Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chromium and silicon poisoning of the SOFC cathode material La0.6Sr0.4CoO3-δ
Bucher, E., Schrödl, N., Gspan, C., Egger, A., Ganser, C., Teichert, C., Hofer, F. & Sitte, W., 23 Sept. 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung