Karl Christian Teichert
Publikationen
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Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz
Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Spectroscopy of defects in epitaxially grown para-sexiphenyl nanostructures
Kadashchuk, A., Schols, S., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. S. 121-125 (Springer proceedings in physics; Band 129).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Spectroscopy of Defects in Epitaxially Grown Para-sexiphenyl Nanostructures
Kadashchuk, A., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, EMRS Symposium O. S. 121-125Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Spontaneous rearrangement of para-sexiphenyl crystallites into nano-fibers
Teichert, C., Hlawacek, G., Andreev, A., Sitter, H., Frank, P., Winkler, A. & Sariciftci, N. S., 2006, in: Applied physics / A (Series A, Materials science & processing). 82, S. 665-669Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spontaneous rearrangement of para-sexiphenyl crystallites into nano-fibers
Hlawacek, G., Teichert, C., Andreev, A., Sitter, H., Plank, H., Resel, R., Frank, P. & Winkler, A., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Statistical slip step evaluation in CrMn and CrNi cold worked steels by atomic force microscopy
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Statistic Slip Step Evaluation of Austenitic Stainless Steels
Gürkan, N., Hlawacek, G., Teichert, C., Sonnleitner, R. & Mori, G., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural, electrical and magnetic measurements on oxide layers grown on 316L exposed to liquid lead–bismuth eutectic
Hosemann, P., Hofer, C., Hlawacek, G., Li, N., Maloy, S. A. & Teichert, C., 2012, in: Journal of nuclear materials. 421, S. 140-146Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and morphology of quaterphenyl thin films on Au(111) – the influence of surface contamination by carbon
Resel, R., Oehzelt, M., Haber, T., Hlawacek, G., Teichert, C., Müllegger, S. & Winkler, A., 2005, in: Journal of crystal growth. 283, S. 397-403Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure and morphology of sexiphenyl thin films grown on aluminium (111)
Resel, R., Salzmann, I., Hlawacek, G., Teichert, C., Koppelhuber, B., Winter, B., Krenn, J. K., Ivanco, J. & Ramsey, M. G., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 45-51Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
