Karl Christian Teichert

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Aktivitäten

  1. 2016
  2. Topographic and electrical nanometer structure characterization by atomic force microscopy and conductive AFM

    Christian Teichert (Redner/-in)

    18 Aug. 2016

    Aktivität: SonstigeExternes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

  3. Nanotechnology (Zeitschrift)

    Christian Teichert (Peer Reviewer)

    14 Aug. 20162 Sept. 2016

    Aktivität: Begutachtung von Publikationen und HerausgebertätigkeitenTätigkeit als Peer Reviewer

  4. Journal of Physical Chemistry (Zeitschrift)

    Christian Teichert (Peer Reviewer)

    4 Aug. 201629 Aug. 2016

    Aktivität: Begutachtung von Publikationen und HerausgebertätigkeitenTätigkeit als Peer Reviewer

  5. Electrical and photoelectric characterization of semiconductor nanostructures using atomic-force microscopy based techniques

    Christian Teichert (Redner/-in)

    10 Juni 2016

    Aktivität: SonstigeExternes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

  6. Sensing cleanliness and defect structure of various graphene substrates with small organic molecules

    Christian Teichert (Redner/-in)

    6 Juni 2016

    Aktivität: SonstigeExternes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

  7. Journal of Physical Chemistry (Zeitschrift)

    Christian Teichert (Peer Reviewer)

    31 März 201621 Apr. 2016

    Aktivität: Begutachtung von Publikationen und HerausgebertätigkeitenTätigkeit als Peer Reviewer

  8. Scientific reports (London : Nature Publishing Group) (Fachzeitschrift)

    Christian Teichert (Peer Reviewer)

    18 März 201614 Apr. 2016

    Aktivität: Begutachtung von Publikationen und HerausgebertätigkeitenTätigkeit als Peer Reviewer

  9. Advanced AFM based mechanical and electrical characterization of nanostructured materials in controlled environment

    Christian Teichert (Redner/-in)

    10 März 2016

    Aktivität: SonstigeExternes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

  10. Nanometer structure characterization by atomic force microscopy

    Christian Teichert (Redner/-in)

    4 März 2016

    Aktivität: SonstigeExternes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

  11. 3rd IEEE International Conference on Devices, Curcuits and Systems – ICDCS’16

    Christian Teichert (Eröffungs- und Plenarredner/-in)

    3 März 20165 März 2016

    Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer VeranstaltungKonferenzteilnahme