Karl Christian Teichert
Aktivitäten
- 2018
Advanced AFM techniques to study photoconductivity of inorganic and organic semiconductor nanostructures
Teichert, C. (Gastredner)
25 Okt. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Nanocellulose as stabilizer for burned paper
Völkel, L. (Redner), Reindl, P. (Beitragende/r), Czibula, C. M. (Beitragende/r), Weber, J. (Beitragende/r), Teichert, C. (Beitragende/r) & Potthast, A. (Beitragende/r)
24 Okt. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation
AFM based investigation and manipulation of organic nanocrystals on 2D materials
Teichert, C. (Gastredner)
10 Okt. 2018 → 12 Okt. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Formation and characterization of organic nanocrystals on 2D materials
Teichert, C. (Gastredner)
25 Sept. 2018 → 26 Sept. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Viscoelastic and hygroscopic properties of cellulosic materials investigated by atomic force microscopy methods
Czibula, C. M. (Redner), Ganser, C. (Beitragende/r), Schennach, R. (Beitragende/r), Hirn, U. (Beitragende/r) & Teichert, C. (Beitragende/r)
24 Sept. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation
2019 NanoScientific Forum Europe Scanning Probe Microscopy (SPM), 11-13 September 2019, University of Bologna,Italy
Gradwohl, K.-P. (Redner/-in) & Teichert, C. (Teilnehmer/-in)
11 Sept. 2018 → 13 Sept. 2018Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme
Viscoelastic properties of pulp fibers investigated by atomic force microscopy
Czibula, C. M. (Redner), Ganser, C. (Beitragende/r), Hirn, U. (Beitragende/r) & Teichert, C. (Beitragende/r)
11 Sept. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation
Vector Piezoresponse Force Microscopy to study polycrystalline PZT ceramics and ZnO varistors
Teichert, C. (Gastredner)
6 Sept. 2018Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
The 84th IUVSTA Workshop Surface Micro-Spectroscopy and Spectro- Microscopy of Electrical Phenomena: Advanced Methodologies for Nano-Characterization of Electronic Surface Phenomena, September 2-5, 2018, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel
Teichert, C. (Organisator/-in)
2 Sept. 2018 → 4 Sept. 2018Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme
The 84th IUVSTA Workshop Surface Micro-Spectroscopy and Spectro- Microscopy of Electrical Phenomena: Advanced Methodologies for Nano-Characterization of Electronic Surface Phenomena, September 2-5, 2018, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel
Teichert, C. (Redner/-in)
2 Sept. 2018 → 4 Sept. 2018Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme
