Gerald J.K. Schaffar

(Ehemalig)

Aktivitäten

  1. 2024
  2. From cryogenic to high temperature conditions - The wide range of advanced nanoindentation to study semiconductor materials

    Maier-Kiener, V. (Redner), Zeiler, S. (Beitragende/r) & Schaffar, G. J. K. (Beitragende/r)

    4 Apr. 2024

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  3. Maximizing the output of metastable crystalline phases during nanoindentation of silicon and germanium

    Schaffar, G. J. K. (Redner), Zeiler, S. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    4 Apr. 2024

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  4. The micromechanical properties of silicon at exceptionally high temperatures

    Schaffar, G. J. K. (Redner), Tscharnuter, D. (Beitragende/r), Imrich, P. J. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    9 Jan. 2024

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  5. 2023
  6. In-Situ Bildgebungsverfahren: HT-REM vs. HT-LSCM - welche Methode ist zu bevorzugen

    Lumper, L. (Redner), Schaffar, G. J. K. (Beitragende/r), Sommerauer, M. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    13 Sept. 202315 Sept. 2023

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  7. Extracting high-temperature stress-strain curves and assessing transformation pressures: The spherical indentation of silicon

    Schaffar, G. (Redner), Tscharnuter, D. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    23 Mai 2023

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  8. University of California, Santa Barbara

    Schaffar, G. (Gastforscher)

    15 Mai 202319 Mai 2023

    Aktivität: Besuch einer externen EinrichtungBesuch einer externen akademischen Einrichtung

  9. Characterizing pressure-induced phase transformations during unloading using CSM – a study on silicon

    Schaffar, G. (Redner), Tscharnuter, D. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    9 März 2023

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

  10. 2022
  11. Phase distribution in silicon after nanoindentation holding experiments investigated by raman spectroscopy

    Schaffar, G. (Redner), Tscharnuter, D. (Beitragende/r) & Maier-Kiener, V. (Beitragende/r)

    20 Apr. 2022

    Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation