Daniel Kiener
Publikationen
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Small scale mechanical testing of irradiated materials
Hosemann, P., Shin, C. & Kiener, D., 27 Jan. 2015, in: Journal of materials research (JMR). 30, 9, S. 1231-1245 15 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Small-scale fracture mechanical investigations on grain boundary doped ultrafine-grained tungsten
Wurmshuber, M., Alfreider, M., Wurster, S., Burtscher, M., Pippan, R. & Kiener, D., 28 März 2023, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta Materialia. 250.2023, 15 May, 12 S., 118878.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Small scale deformation behavior of Au – influence of microstructure and temperature
Maier-Kiener, V., Kiener, D., Leitner, A. & Pippan, R., 18 Feb. 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Small scale deformation behavior of Au – influence of microstructure and temperature
Maier-Kiener, V., Leitner, T., Kiener, D. & Pippan, R., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effects in single crystal plasticity of copper under uniaxial loading
Kiener, D., 2007, 127 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Site Specific Microstructural Evolution of Thermo-mechanically Fatigued Copper Films
Bigl, S., Wurster, S., Cordill, M. J. & Kiener, D., 18 Feb. 2015, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 160, 5, S. 235-239 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Selective interface toughness measurements of layered thin films
Konetschnik, R., Daniel, R., Brunner, R. & Kiener, D., 9 März 2017, in: AIP Advances. 7.2017, 3, 5 S., 035307.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Sample Preparation by Metallography and Focused Ion Beam for Nanomechanical Testing
Moser, G., Felber, H., Rashkova, B., Imrich, P. J., Kirchlechner, C., Grosinger, W., Motz, C., Dehm, G. & Kiener, D., 2012, in: Practical metallography = Praktische Metallographie. 49, S. 343-355Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
