Daniel Kiener
Publikationen
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The use of femtosecond laser ablation as a novel tool for rapid micro-mechanical sample preparation
Pfeifenberger, M. J., Mangang, M., Wurster, S., Reiser, J., Hohenwarter, A., Pfleging, W., Kiener, D. & Pippan, R., 5 Mai 2017, in: Materials and Design. 121.2017, 5 May, S. 109-118 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Dislocation plasticity of Al film on polyimide investigated by cross-sectional in situ transmission electron microscopy straining
Oh, S. H., Rentenberger, C., Im, J., Motz, C., Kiener, D., Karnthaler, H.-P. & Dehm, G., 2011, in: Scripta materialia. 65, S. 456-459Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ TEM straining of single crystal Au films on polyimide: Change of deformation mechanisms at the nanoscale
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 5558-5571Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ observation of dislocation nucleation and escape in a submicrometre aluminium single crystal
Oh, S. H., Legros, M. J., Kiener, D. & Dehm, G., 2009, in: Nature Materials. 8, S. 95-100Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In-situ TEM tensile testing of thin Au films: A transition in deformation mechanism
Oh, S. H., Kiener, D., Legros, M., Gruber, P., Arzt, E. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Limpet teeth microstructure unites auxeticity with extreme strength and high stiffness
Oh, S. H., Kim, J.-K., Liu, Y., Wurmshuber, M., Peng, X.-L., Seo, J., Jeong, J., Wang, Z., Wilmers, J., Soyarslan, C., Kim, J., Kittiwirayanon, B., Jeong, J., Kim, H.-J., Huh, Y. H., Kiener, D., Bargmann, S. & Gao, H., 2 Dez. 2022, in: Science Advances. 8.2022, 48, 10 S., eadd4644.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentations using FIB, EBSD and TEM
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2004, Proceedings of the 25th Risø International Symposium on Materials Science: Evolution of Deformation Microstructures in 3D. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2005, Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
