Department Allgemeine, Analytische und Physikalische Chemie
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Aktuelle Arbeitsgebiete – Lehrstuhl für Physikalische Chemie
Bucher, E., Bürgermeister, A., Preis, W. & Waldner, P., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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AI assisted steel cleanness evaluation: Predicting the morphology of La-traced non-metallic inclusions using backscattered-electron images
Thiele, K., Musi, R., Prohaska, T., Irrgeher, J. & Michelic, S. K., 1 Jan. 2024, in: Journal of Materials Research and Technology. 28.2024, January-February, S. 2247-2257 11 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Agilent Webinar: Has ICP-MS Helped to Improve the Quality of Data Obtained from Geological Samples?
Meisel, T. C., 19 Apr. 2018Publikationen: Elektronische/multimediale Veröffentlichungen › Webpublikation oder Website › Forschung
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A Geo-PedoFingerprint (GPF) as a tracer to detect univocal parent material-to-wine production chain in high quality vineyard districts, Campi Flegrei (Southern Italy)
Prohaska, T., Mercurio, M., Grilli, E., Odierna, P., Morra, V., Coppola, E., Grifa, C., Buondonno, A. & Langella, A., 2014, in: Geoderma. S. 64-78Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A 'Geo-Pedo-Fingerprint' (GPF) as a tracer to detect univocal parent material-to-wine production chain in high quality vineyard districts, Campi Flegrei (Southern Italy)
Mercurio, M., Grilli, E., Odierna, P., Morra, V., Prohaska, T., Coppola, E., Grifa, C., Buondonno, A. & Langella, A., Okt. 2014, in: Geoderma. 230, S. 64-78Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A fundamental parameters approach including scattered radiation for mono-energetically excited samples in energy-dispersive x-ray fluorescence spectrometry
Rachetti, A. & Wegscheider, W., 1986, in: Analytica chimica acta. 188, C, S. 37-50 14 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A forgotten fact about the standard deviation
Rösslein, M., Wolf, M., Wampfler, B. & Wegscheider, W., 2007, in: Accreditation and quality assurance. 12, S. 495-496Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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AFM-investigations of AlGaAs/GaAsMultilayer structures under Inert and reactive media by Atomic Force Microscopy
Prohaska, T., FRIEDBACHER, G. & GRASSERBAUER, M., 1995, in: Analytical chemistry. S. 1530-1535Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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AFM investigation of silicon substrates for chemical vapour deposition of diamond films
Prohaska, T., Fuchs, G. M., FRIEDBACHER, G., Schwarzbach, D., Bouveresse, E. & GRASSERBAUER, M., 1995, in: Fresenius' journal of analytical chemistry . S. 698-701Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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AFM and STM studies on In2O3 and ITO thin films deposited by Atomic Layer Epitaxy
Prohaska, T. & FRIEDBACHER, G., 1996, in: Applied surface science. S. 91-98Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
