Microscopy and microanalysis, 1431-9276
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 1431-9276 |
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Publikationen
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State-of-the-art and future directions of fs-laser assisted specimen preparation techniques for atom probe tomography measurements
Tkadletz, M., Schiester, M., Renk, O. & Schalk, N., 24 Juli 2024, in: Microscopy and microanalysis. 30.2024, Supplement 1, S. 89-90 2 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sensitivity and Quantitativity in Atom Probe Tomography
Danoix, F., Bostel, A., Leitner, H., Jessner, P., Sauvage, X., Gouné, M. & Danoix, R., 2009, in: Microscopy and microanalysis. S. 258-259Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Quantitative Approaches for in situ SEM and TEM Deformation Studies
Dehm, G., Kiener, D., Motz, C., Pippan, R. & Smolka, M., 2012, in: Microscopy and microanalysis. 18, S. 736-737Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Quantification of the Recrystallized Fraction in a Nickel-Base-Alloy from EBSD data
Mitsche, S., Pölt, P., Sommitsch, C. & Walter, M., 2003, in: Microscopy and microanalysis. Suppl. 3, S. 344-345Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In Situ Annealing
Lowry, M. B., Kiener, D., Le Blanc, B. B., Chisholm, C., Florando, J. N., Morris, J. W. J. & Minor, A. M., 2010, in: Microscopy and microanalysis. 16, S. 1748-1749Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Metals in Human Gall, Bladder, and Kidney Stones Based on an Electron Microprobe Investigation
Moser, R., Zaccarini, F., Moser, W., Schrittwieser, R. & Kerbl, R., 2015, in: Microscopy and microanalysis. 21, S. 1167-1172Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Lock-In Infrared Microscopy on ZnO Ceramics - A Complementary Investigation Technique for the Analysis of Functional Electroceramic Components
Hofstätter, M., Raidl, N., Sartory, B. & Supancic, P., 2015, in: Microscopy and microanalysis. 21, S. 1145-1152 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Linking Macroscopic Fracture Properties to Single Dislocation Processes
Issa, I., Alfreider, M., Kozic, D., Kolednik, O., Sandfeld, S. & Kiener, D., Aug. 2018, in: Microscopy and microanalysis. 24.2018, Supplement S1, S. 2184-2185 2 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Introduction: Electron Probe Microanalysis of Materials Today. Rare and Noble Elements: From Ore Deposits to High-Tech Materials.
Rinaldi, R. & Zaccarini, F., 2015, in: Microscopy and microanalysis. 21, S. 1051 – 1052Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Leitartikel › (peer-reviewed)
