Microscopy and microanalysis, ‎1431-9276

Fachzeitschrift: Zeitschrift

ISSNs1431-9276
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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Sensitivity and Quantitativity in Atom Probe Tomography

    Danoix, F., Bostel, A., Leitner, H., Jessner, P., Sauvage, X., Gouné, M. & Danoix, R., 2009, in: Microscopy and microanalysis. S. 258-259

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  2. Veröffentlicht

    Quantitative Approaches for in situ SEM and TEM Deformation Studies

    Dehm, G., Kiener, D., Motz, C., Pippan, R. & Smolka, M., 2012, in: Microscopy and microanalysis. 18, S. 736-737

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  3. Veröffentlicht

    Atom probe tomography for isotopic analysis: development of the 34S/32S system in sulfides

    Gopon, P., Douglas, J., Meisenkothen, F., Singh, J., London, A. & Moody, M., 2021, in: Microscopy and microanalysis.

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  4. Veröffentlicht

    Diagenetic Evolution and Reservoir Quality of Sandstones in the North Alpine Foreland Basin: A Microscale Approach

    Groß, D., Grundtner, M.-L., Misch, D., Riedl, M., Sachsenhofer, R. & Scheucher, L., 6 Juni 2015, in: Microscopy and microanalysis. 21, 5, 15 S.

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  5. Veröffentlicht

    Extreme ductility at the nanoscale in Fe-based alloys

    Hintsala, E., Kiener, D. & Gerberich, W. W., 1 Aug. 2014, in: Microscopy and microanalysis. 20, 3, S. 1876-1877 2 S.

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  6. Veröffentlicht

    Lock-In Infrared Microscopy on ZnO Ceramics - A Complementary Investigation Technique for the Analysis of Functional Electroceramic Components

    Hofstätter, M., Raidl, N., Sartory, B. & Supancic, P., 2015, in: Microscopy and microanalysis. 21, S. 1145-1152 8 S.

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  7. Veröffentlicht

    Linking Macroscopic Fracture Properties to Single Dislocation Processes

    Issa, I., Alfreider, M., Kozic, D., Kolednik, O., Sandfeld, S. & Kiener, D., Aug. 2018, in: Microscopy and microanalysis. 24.2018, Supplement S1, S. 2184-2185 2 S.

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  8. Veröffentlicht

    Conventional TEM investigation of the FIB damage in copper

    Kiener, D., Jörg, T., Rester, M., Motz, C. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 100-101

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  9. Veröffentlicht

    Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In Situ Annealing

    Lowry, M. B., Kiener, D., Le Blanc, B. B., Chisholm, C., Florando, J. N., Morris, J. W. J. & Minor, A. M., 2010, in: Microscopy and microanalysis. 16, S. 1748-1749

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  10. Veröffentlicht

    Connecting in situ TEM mechanical testing with bulk properties of irradiated materials

    Minor, A. M., Hosemann, P. & Kiener, D., 2012, in: Microscopy and microanalysis. 18, S. 1344-1345

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