Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Electronic Imaging, Science and Technology
Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme
Teilnehmer
- Mark Tratnig - Redner/-in
Datum
17 Jan. 2005 → 20 Jan. 2005
Mark Tratnig - Redner/-in
17 Jan. 2005 → 20 Jan. 2005
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Electronic Imaging, Science and Technology
Dauer | 17 Jan. 2005 → … |
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Ort | San Jose |
US Bundesstaaten | Kalifornien |
Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
Veranstaltung: Konferenz