Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Electronic Imaging, Science and Technology

Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer VeranstaltungKonferenzteilnahme

Teilnehmer

Datum

17 Jan. 200520 Jan. 2005

Mark Tratnig - Redner/-in

17 Jan. 200520 Jan. 2005

Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Electronic Imaging, Science and Technology

Dauer17 Jan. 2005 → …
OrtSan Jose
US BundesstaatenKalifornien
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten

Veranstaltung: Konferenz