Atomic Force Microscopy Based Electrical Characterization of Multiphase Intermetallic TiAl Alloys

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Teilnehmer

Datum

31 März 20195 Apr. 2019

Markus Kratzer - Redner

31 März 20195 Apr. 2019

Externe Organisation

NameUniversität Regensburg
OrtRegensburg
Land/GebietDeutschland