Source controlled yield and hardening of Cu(100) studied by in situ transmission electron microscopy

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

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Titel in ÜbersetzungSource controlled yield and hardening of Cu(100) studied by in situ transmission electron microscopy
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1328-1337
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang59
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2011