Source controlled yield and hardening of Cu(100) studied by in situ transmission electron microscopy
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Details
Titel in Übersetzung | Source controlled yield and hardening of Cu(100) studied by in situ transmission electron microscopy |
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Originalsprache | Englisch |
Seiten (von - bis) | 1328-1337 |
Fachzeitschrift | Acta materialia |
Jahrgang | 59 |
DOIs | |
Status | Veröffentlicht - 2011 |