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  1. 2024
  2. Veröffentlicht

    fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy

    Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Juni 2024, in: Materials Today Communications. 39.2024, June, 6 S., 108672.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Nanocomposite versus solid solution formation in the TiSiN system

    Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 30 Mai 2024, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 275.2024, 15 August, 10 S., 120063.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography

    Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Advancements in elemental analysis of Ti(C,N) coatings using atom probe tomography

    Schiester, M., 2024

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit

  6. Veröffentlicht

    Annealing activated substrate element diffusion and its influence on the microstructure and mechanical properties of CVD TiN/TiCN coatings

    Konstantiniuk, F., Schiester, M., Tkadletz, M., Czettl, C. & Schalk, N., 2024, in: Surface & coatings technology. 488.2024, 30 July, 6 S., 131079.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. 2023
  8. Veröffentlicht

    Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?

    Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography

    Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Efficient preparation of microtip arrays for atom probe tomography using fs-laser processing

    Tkadletz, M., Waldl, H., Schiester, M., Lechner, A., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 5 S., 113672.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Spatially resolved peak decomposition of 3D atom probe tomography datasets

    Schiester, M., Konstantiniuk, F., Schalk, N. & Tkadletz, M., 2023.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung

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