Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy
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Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2006 |
| Veranstaltung | 14th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics - Mauterndorf, Österreich Dauer: 13 Feb. 2006 → 17 Feb. 2006 |
Konferenz
| Konferenz | 14th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics |
|---|---|
| Land/Gebiet | Österreich |
| Ort | Mauterndorf |
| Zeitraum | 13/02/06 → 17/02/06 |
