Indentation response of a superlattice thin film revealed by in-situ scanning X-ray nanodiffraction
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Autoren
Organisationseinheiten
Externe Organisationseinheiten
- Erich-Schmid-Institut für Materialwissenschaft der Österreichischen Akademie der Wissenschaften
- Helmholtz-Zentrum Hereon, Geesthacht
- Christian Doppler Labor für Anwendungsorientierte Schichtentwicklung, Wien
- Technische Universität Wien
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 425-432 |
| Seitenumfang | 8 |
| Fachzeitschrift | Acta Materialia |
| Jahrgang | 195.2020 |
| Ausgabenummer | 15 August |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 29 Mai 2020 |
