Imaging ultra thin layers with helium ion microscopy: Utilizing the channeling contrast mechanism
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Details
| Titel in Übersetzung | Imaging ultra thin layers with helium ion microscopy: Utilizing the channeling contrast mechanism |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 507-512 |
| Fachzeitschrift | Beilstein journal of nanotechnology |
| Jahrgang | 3 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 2012 |
