High temperature Studies of Ti-Si-C Thin Films with Respect to Potential MAX Phase Formation

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • P. Eklund
  • J. Emmerlich
  • H. Ljungcrantz
  • H. Högberg
  • L. Hultman

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungHigh temperature Studies of Ti-Si-C Thin Films with Respect to Potential MAX Phase Formation
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2005
Veranstaltung13. International Conference on Thin Films (ICTF) - Stockholm, Schweden
Dauer: 20 Juni 200523 Juni 2005

Konferenz

Konferenz13. International Conference on Thin Films (ICTF)
Land/GebietSchweden
OrtStockholm
Zeitraum20/06/0523/06/05