Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films
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Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2012 |
| Veranstaltung | 4th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials - Aichi, Japan Dauer: 4 März 2012 → 8 März 2012 |
Konferenz
| Konferenz | 4th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials |
|---|---|
| Land/Gebiet | Japan |
| Ort | Aichi |
| Zeitraum | 4/03/12 → 8/03/12 |
