Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films
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Details
| Titel in Übersetzung | Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 735-742 |
| Fachzeitschrift | International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde |
| Jahrgang | 102 |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
