Defect induced shortening of excess carrier lifetime in single period nipi structures
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
| Titel in Übersetzung | Defect induced shortening of excess carrier lifetime in single period nipi structures |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 1307-1313 |
| Fachzeitschrift | Materials science and technology |
| Jahrgang | 14 |
| Status | Veröffentlicht - 1998 |
