Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation. / Holub, Georg; Hofer, Sebastian; Obermüller, T. et al.
2023. Postersitzung präsentiert bei AIMSE 2023, Saarbrücken, Deutschland.
2023. Postersitzung präsentiert bei AIMSE 2023, Saarbrücken, Deutschland.
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Holub, G, Hofer, S, Obermüller, T & Romaner, L 2023, 'Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation', AIMSE 2023, Saarbrücken, Deutschland, 22/11/23 - 23/11/23.
APA
Holub, G., Hofer, S., Obermüller, T., & Romaner, L. (2023). Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation. Postersitzung präsentiert bei AIMSE 2023, Saarbrücken, Deutschland.
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Holub G, Hofer S, Obermüller T, Romaner L. Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation. 2023. Postersitzung präsentiert bei AIMSE 2023, Saarbrücken, Deutschland.
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title = "Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation",
author = "Georg Holub and Sebastian Hofer and T. Oberm{\"u}ller and Lorenz Romaner",
year = "2023",
language = "English",
note = "AIMSE 2023 ; Conference date: 22-11-2023 Through 23-11-2023",
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TY - CONF
T1 - Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation
AU - Holub, Georg
AU - Hofer, Sebastian
AU - Obermüller, T.
AU - Romaner, Lorenz
PY - 2023
Y1 - 2023
M3 - Poster
T2 - AIMSE 2023
Y2 - 22 November 2023 through 23 November 2023
ER -
