A novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction

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Autoren

Titel in Übersetzung	A novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	9-18
Fachzeitschrift	Ultramicroscopy
Jahrgang	144
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2014.04.003
Status	Veröffentlicht - 2014