Shaun Lancaster
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Publikationen
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Evaluation of X-ray fluorescence for analysing critical elements in three electronic waste matrices: A comprehensive comparison of analytical techniques
Lancaster, S., Sahlin, E., Oelze, M., Ostermann, M., Vogl, J., Laperche, V., Touze, S., Ghestem, J. P., Dalencourt, C., Gendre, R., Stammeier, J., Klein, O., Pröfrock, D., Košarac, G., Jotanovic, A., Bergamaschi, L., Di Luzio, M., D'Agostino, G., Jaćimović, R. & Eberhard, M. &9 mehr, , 19 Okt. 2024, in: Waste management. 190.2024, 15 December, S. 496-505 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Prohaska, T., Trimmel, S. & Wagner, S., 2022.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Transfer
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S2-P3 Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Trimmel, S., Wagner, S. & Prohaska, T., Aug. 2022, S. A18. 1 S.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung
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P6.1.CL Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Trimmel, S., Wagner, S. & Prohaska, T., Sept. 2022, S. 107. 1 S.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung
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Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Trimmel, S., Wagner, S. & Prohaska, T., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Transfer
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We 33 Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Trimmel, S., Wagner, S. & Prohaska, T., Feb. 2023, S. 301. 1 S.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung
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P.03 Fostering inclusive access to analytical instrumentation
Irrgeher, J., Schober, M., Lancaster, S., Trimmel, S., Wagner, S. & Prohaska, T., Mai 2023, S. 47. 1 S.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung
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Development and application of reference and routine analytical methods providing SI-traceable results for the determination of technology-critical elements in PCB from WEEE
D'Agostino, G., Oelze, M., Vogl, J., Ghestem, J. P., Lafaurie, N., Klein, O., Pröfrock, D., Di Luzio, M., Bergamaschi, L., Jaćimović, R., Oster, C., Irrgeher, J., Lancaster, S., Walch, A., Röthke, A., Michaliszyn, L., Pramann, A., Rienitz, O., Sara-Aho, T. & Cankur, O. &2 mehr, , 18 Sept. 2024, in: Journal of analytical atomic spectrometry. 39.2024, 11, S. 2809-2823 15 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
