Martin Leopold Rester
(Ehemalig)
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Publikationen
- 2007
- Veröffentlicht
FIB damage of Cu and possible consequences for miniaturized mechanical tests
Kiener, D., Motz, C., Rester, M., Jenko, M. & Dehm, G., 2007, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 459, S. 262-272Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Influence of External and Internal Length Scale of the Flow Stress of Copper
Kiener, D., Rester, M., Scheriau, S., Yang, B., Pippan, R. & Dehm, G., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 1047-1053Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Influence of external and internal length scale on the flow stress of copper
Kiener, D., Rester, M., Scheriau, S., Yang, B., Pippan, R. & Dehm, G., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 1047-1053Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2006
- Veröffentlicht
Annealing studies of nanocomposite Ti-Si-C thin films with respect to phase stability and tribological performance
Rester, M., Neidhardt, J., Eklund, P., Emmerlich, J., Ljungcrantz, H., Hultman, L. & Mitterer, C., 2006, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 429, S. 90-95Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural investigation of the deformation zone below nanoindents in copper, silver and nickel
Rester, M., Kiener, D., Kreuzer, H., Dehm, G. & Motz, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nanoindentation: deviations from the Nix-Gao model
Rester, M., Motz, C., Schöberl, T., Kreuzer, H. & Pippan, R., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
High temperature Studies of Ti-Si-C Thin Films with Respect to Potential MAX Phase Formation
Rester, M., Neidhardt, J., Mitterer, C., Eklund, P., Emmerlich, J., Ljungcrantz, H., Högberg, H. & Hultman, L., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
