Markus Kratzer
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Publikationen
- 2011
- Veröffentlicht
Electrical Transport in Individual ZnO Nanorods Studied by Photo-Conductive Atomic-Force Microscopy
Kratzer, M., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2012
- Veröffentlicht
Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)
Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Growth of para-hexaphenyl thin films on graphene:an AFM study
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
The contact charging of insulators by atomic force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
UV-Induced Modulation of the Conductivity of Polyaniline: Towards a Photo-Patternable Charge Injection Layer for Structured Organic Light Emitting Diodes
Grießer, T., Radl, S. V., Köpplmayr, T., Wolfberger, A., Edler, M., Pavitschitz, A., Kratzer, M., Teichert, C., Rath, T., Trimmer, G., Schwabegger, C., Simbrunner, C., Sitter, H. & Kern, W., 2012, in: Journal of materials chemistry. 22, S. 2922-2928Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Wzrost molekul para-sexiphenylu na zmodykowanej wiazka jonowa powierzchni TiO2 (110)
Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)
- 2013
- Veröffentlicht
Atomic force microscopy based manipulation of graphene using dynamic plowing lithography
Vasić, B., Kratzer, M., Matković, A., Nevosad, A., Ralević, U., Jovanović, D., Ganser, C., Teichert, C. & Gajić, R., 2013, in: Nanotechnology. 24, S. 015303-015303Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
