Karl Christian Teichert
Publikationen
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Reibwerte und Entformungskräfte im konventionellen Spritzguss. Vorhersage durch Grenzflächenspannung?
Berger, G., Friesenbichler, W., Teichert, C., Langecker, G. & Lugger, M., 2013, 22. Leobener Kunststoff-Kolloquium: Oberlfächen und Grenzflächen in der Polymertechnologie. S. 75-89Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Reibungskraftmikroskopie
Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 116-117Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Reconstruction of the domain orientation distribution function of polycrystalline PZT ceramics using vector piezoresponse force microscopy
Kratzer, M., Lasnik, M., Röhrig, S., Teichert, C. & Deluca, M., 11 Jan. 2018, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Recent patents on self-organised magnetic nanodot arrays
de Miguel, J. J., Bobek, T. & Teichert, C., 2011, in: Recent patents on nanotechnology. 5, 1, S. 1-18Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Recent developments in surface science and engineering, thin films, nanoscience, biomaterials, plasma science, and vacuum technology
Mozetic, M., Vesel, A., Primc, G., Eisenmenger-Sittner, C., Bauer, J., Eder, A., Schmid, G. H. S., Ruzic, D. N., Ahmed, Z., Barker, D., Douglass, K. O., Eckel, S., Fedchak, J. A., Hendricks, J., Klimov, N., Ricker, J., Scherschligt, J., Stone, J., Strouse, G. & Capan, I. &31 mehr, , 30 Aug. 2018, in: Thin solid films. 660, S. 120-160Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Übersichtsartikel › (peer-reviewed)
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Reactive Gate Oxide Modification for Organic Thin Film Transistors
Pacher, P., Lex, A., Proschek, V., Hlawacek, G., Shen, Q., Teichert, C., Satka, A., Kovac, J., Werzer, O., Temmel, S., Frank, P., Resel, R., Schennach, R., Winkler, A., Slugovc, C., Trimmel, G. & Zojer, E., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Teichert, C., 2005, Handbuch der Nanoanalytik, Steiermark. S. 73-74Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 105-106Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Quantum Size Effects in Multilayer Si-Ge Epitaxial Heterostructures
Kozyrev, Y. N., Kondratenko, S. V., Rubezhanska, M. Y., Lysenko, V. S., Sushyi, A. V., Teichert, C. & Hofer, C., 2010, Nanomaterials and Supramolecular Structures- Physics Chemistry and Applications, Part 3. S. 235-245Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Quantitative investigation of precipitated lignin using atomic force microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)