Karl Christian Teichert
Aktivitäten
- 2016
Ion bombardment induced rippled substrates as templates for organic thin film growth
Teichert, C. (Vorsitzende)
19 Aug. 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
Topographic and electrical nanometer structure characterization by atomic force microscopy and conductive AFM
Teichert, C. (Redner/-in)
18 Aug. 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
Nanotechnology (Zeitschrift)
Teichert, C. (Peer Reviewer)
14 Aug. 2016 → 2 Sept. 2016Aktivität: Begutachtung von Publikationen und Herausgebertätigkeiten › Tätigkeit als Peer Reviewer
Journal of Physical Chemistry (Zeitschrift)
Teichert, C. (Peer Reviewer)
4 Aug. 2016 → 29 Aug. 2016Aktivität: Begutachtung von Publikationen und Herausgebertätigkeiten › Tätigkeit als Peer Reviewer
Electrical and photoelectric characterization of semiconductor nanostructures using atomic-force microscopy based techniques
Teichert, C. (Redner/-in)
10 Juni 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
Sensing cleanliness and defect structure of various graphene substrates with small organic molecules
Teichert, C. (Redner/-in)
6 Juni 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
Journal of Physical Chemistry (Zeitschrift)
Teichert, C. (Peer Reviewer)
31 März 2016 → 21 Apr. 2016Aktivität: Begutachtung von Publikationen und Herausgebertätigkeiten › Tätigkeit als Peer Reviewer
Scientific reports (London : Nature Publishing Group) (Fachzeitschrift)
Teichert, C. (Peer Reviewer)
18 März 2016 → 14 Apr. 2016Aktivität: Begutachtung von Publikationen und Herausgebertätigkeiten › Tätigkeit als Peer Reviewer
Advanced AFM based mechanical and electrical characterization of nanostructured materials in controlled environment
Teichert, C. (Redner/-in)
10 März 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
Nanometer structure characterization by atomic force microscopy
Teichert, C. (Redner/-in)
4 März 2016Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)
