Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Extracting high-temperature stress–strain curves from a 1.2 μm silicon film using spherical nanoindentation
Schaffar, G. J. K., Tscharnuter, D., Imrich, P. J. & Maier-Kiener, V., 27 Dez. 2024, in: Thin solid films. 809.2025, 1 January, 10 S., 140597.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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An Attempt to Create Amorphous Intergranular Films in Nanocrystalline Cu-Zr Using High-Pressure Torsion
Schaffar, G. J. K., 2020Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit
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The Phase Transformation of Silicon Assessed by an Unloading Contact Pressure Approach
Schaffar, G. J. K., Kappacher, J., Tscharnuter, D. & Maier-Kiener, V., 18 Apr. 2022, in: JOM. 74.2022, 6, S. 2220-2230 11 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Indentation unloading phase transformations in silicon: A new perspective
Schaffar, G. J. K., Tscharnuter, D. & Maier-Kiener, V., 2022.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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The micromechanical characterization of silicon up to 950
Schaffar, G. J. K., Tscharnuter, D., Imrich, P. J. & Maier-Kiener, V., 2022.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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High-temperature micromechanical testing of silicon
Schaffar, G. J. K. & Tscharnuter, D., 2022.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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The micromechanical characterization of silicon up to 950 °C
Schaffar, G. J. K., Tscharnuter, D. & Maier-Kiener, V., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Effect of thermal treatment on microstructure in high pressure torsion (HPT) deformed nickel
Schafler, E. & Pippan, R., 2004, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 387-389, S. 799-804Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Texture of equal channel angular pressed Cu investigated by electron back scatter diffraction and x-ray diffraction
Schafler, E., Kopacz, I., Pippan, R. & Stüwe, H.-P., 2005, in: Kovové materiály : Metallic materials. 43, S. 422-431Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Texture Evolution and Microstructure of ECAL Cu determined by XRD and EBSD
Schafler, E., Tarkowski, L., Bonarski, J., Kopacz, I., Pippan, R. & Stüwe, H.-P., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)