Unlocking the Value of Electronic Waste: Inter-laboratory Insights into Critical Element Analysis

Lancaster, S. T., Sahlin, E., Oelze, M., Ostermann, M., Vogl, J., Laperche, V., Touze, S., Ghestem, J. P., Dalencourt, C., Gendre, R., Stammeier, J., Klein, O., Pröfrock, D., Košarac, G., Jotanovic, A., Bergamaschi, L., Di Luzio, M., D'Agostino, G., Jaćimović, R. & Eberhard, M. &9 mehr, Feiner, L., Trimmel, S., Rachetti, A., Sara-Aho, T., Roethke, A., Michaliszyn, L., Pramann, A., Rienitz, O. & Irrgeher, J., 3 März 2025.

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