In-situ probing of metallic glass formation and crystallization upon heating and cooling via fast differential scanning calorimetry

Pogatscher, S., Uggowitzer, P. J. & Löffler, J. F., 2014, in: Applied physics letters. 104, S. 251908-251908

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Cellulose as biodegradable high-k dielectric layer in organic complementary inverters

Petritz, A., Wolfberger, A., Fian, A., Irimia-Vladu, M., Haase, A., Gold, H., Rothländer, T., Grießer, T. & Stadlober, B., 2013, in: Applied physics letters. 103, S. 153303-153303

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Control of bonding and epitaxy at copper/sapphire interface

Oh, S. H., Scheu, C., Wagner, T. & Rühle, M., 2007, in: Applied physics letters. 91, S. 141912-1-141912-3

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Ab Initio Calculated Binodal and Spinodal of Cubic Ti1-xAlxN

Mayrhofer, P. H., Music, D. & Schneider, J. M., 2006, in: Applied physics letters. 88, S. 071922-1-071922-3

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Self-organized nanocolumnar structure in superhard TiB2 thin films

Mayrhofer, P., Mitterer, C., Wen, J. G., Greene, J. E. & Petrov, I., 2005, in: Applied physics letters. 86, S. 131909-131911

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Photochemical control of the carrier mobility in pentacene--based organic thin-film transistors

Marchl, M., Golubkov, A. W., Edler, M., Grießer, T., Pacher, P., Haase, A., Stadlober, B., Belegratis, M. R., Trimmel, G. & Zojer, E., 2010, in: Applied physics letters. 96, S. 213303-ff

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Crystal rotation in Cu single crystal micropillars: In situ Laue and electron backscatter diffraction

Maaß, R., Van Petegem, S., Grolimund, D., Van Swygenhoven, H., Kiener, D. & Dehm, G., 2008, in: Applied physics letters. 92, S. 071905-1-071905-4

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Phase separation and exchange biasing in the ferromagnetic IV-VI semiconductor GeMnTe

Lechner, R. T., Springholz, G., Hassan, M., Groiss, H., Kirchschlager, R., Stangl, J., Hrauda, N. & Bauer, G., 2010, in: Applied physics letters. 97, S. 023101-1-023101-3

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Effects of polymethylmethacrylate-transfer residues on the growth of organic semiconductor molecules on chemical vapor deposited graphene

Kratzer, M., Bayer, B. C., Kidambi, P. R., Matkovic, A., Gajic, R., Cabrero-Vilatela, A., Weatherup, R. S., Hofmann, S. & Teichert, C., 9 März 2015, in: Applied physics letters. 106, 10

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Direct measurement of vacancy relaxation by dilatometry

Kotzurek, J. A., Steyskal, E.-M., Oberdorfer, B., Hohenwarter, A., Pippan, R., Sprengel, W. & Würschum, R., 14 Juli 2016, in: Applied physics letters. 109.2016, 2, 5 S., 021906.

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