Mechanical Reliability of Microelectronic Components: Testing Single Crystals from Micro to Macro Scale

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Teilnehmer

Datum

17 Apr. 202419 Apr. 2024

Manuel Gruber - Redner

Peter Hans Supancic - Beitragende/r

Daniel Kiener - Beitragende/r

Raul Bermejo - Beitragende/r

17 Apr. 202419 Apr. 2024

Veranstaltung (Konferenz)

Titel12th EEIGM International Conference on Advanced Materials Research
Abkzg. TitelEEIGM
Zeitraum17/04/2419/04/24
Webadresse (URL)
OrtMarrakesch
Land/GebietMarokko
BekanntheitsgradInternationale Veranstaltung